多道脉冲幅度分析器微分线性检验中的计数统计涨落STATISTICAL FLUCTUATION OF COUNTS IN TESTING MULTIPLE CHANNEL AMPLITUDE ANALYZER FOR DIFFERENTIAL LINEARITY
李德平
摘要(Abstract)：
多道脉冲幅度分析器中道界常是不很清晰而形成一光滑的道廊线。当用(固定频率)的滑移脉冲产生器检验多道分析器的微分线性时,不清晰的道界将造成各道计数的统计涨落;道计数N之方差为σ_N~2=KN,0≤K 1;相邻道计数N.N_i问之协方差为Cov(N_cN_i)=k_iN,-1≤k_i≤0。对于由正态分布产生的道廓线,给出了K及k_i的公式与曲线,在一组各道计数之观测值间,其标准偏差及此偏差之方差均因计数间的相关而有所增加,文中给出了相应的公式。
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作者(Author): 李德平