核科学与工程

1982, (01) 94-97

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低本底γ谱仪的本底参数测量
MEASUREMENT OF BACKGROUND PARAMETERS ON LOW BACKGROUND γ-RAY SPECTROMETER

宋绍仪;李焕铁;吕军光;唐孝威;

摘要(Abstract):

<正> 反符合屏蔽NaI(TI)γ谱仪是进行低本底γ能谱测量的重要仪器,中国科学院原子能研究所建造的一台谱仪已在文[1]中报导。为了进一步了解这台谱仪中本底的来源,我们测量了不同工条件下的本底计数,包括改变谱仪中脉冲幅度选择条件和符合反符合逻辑组合,以及在谱仪内加入吸收片等。实验测量装置如图1所示,通过开关K_1可以使上晶体(φ80×80mm)处于符合或反符合、用或不用的状态;通过K_2使环晶体(φ外200,φ内100,h300mm)处于反符合或不用的状态,而由主晶体(φ75×75mm)进行γ射线的分

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基金项目(Foundation):

作者(Authors): 宋绍仪;李焕铁;吕军光;唐孝威;

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